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Improved self-absorption correction for fluorescence measurements of extended x-ray absorption fine-structure

机译:改进的自吸收校正荧光测量   扩展的X射线吸收精细结构

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摘要

Extended x-ray absorption fine-structure (EXAFS) data collected in thefluorescence mode are susceptible to an apparent amplitude reduction due to theself-absorption of the fluorescing photon by the sample before it reaches adetector. Previous treatments have made the simplifying assumption that theeffect of the EXAFS on the correction term is negligible, and that the samplesare in the thick limit. We present a nearly exact treatment that can be appliedfor any sample thickness or concentration, and retains the EXAFS oscillationsin the correction term.
机译:在荧光模式下收集的扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)数据由于样品在到达检测器之前对荧光光子的自吸收而易于出现明显的幅度减小。先前的处理已经做出了简化的假设,即EXAFS对校正项的影响可以忽略不计,并且样本处于上限范围内。我们提出了一种几乎精确的处理方法,可以适用于任何厚度或浓度的样品,并在校正项内保留EXAFS振荡。

著录项

  • 作者

    Booth, C. H.; Bridges, F.;

  • 作者单位
  • 年度 2003
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 {"code":"en","name":"English","id":9}
  • 中图分类

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